思達科技多功能前沿自動(dòng)化矽光子測試系統出貨

 Sagittarius-SPT系列 - 結合研究、特性分析與生產(chǎn)的多功能合一矽光子元件自動(dòng)化測試系統

矽光子是一種顛覆性技術(shù)，將徹底改變如數據中心、高效能計算與數據傳輸等多項應用領(lǐng)域。矽光子是數個(gè)技術(shù)模塊的整合，包括激光器、光學(xué)元件、MEMS 、高速數位與射頻系統單晶片(SOCs)。如此復雜系統的測試，需要在精密機械、光學(xué)特性與射頻測量等等領(lǐng)域，具備極高的整合專(zhuān)業(yè)知識。

隨著(zhù)制造廠(chǎng)、商業(yè)模組工具與光子測試性能組成的工業(yè)生態(tài)系統出現，光學(xué)集成電路科技與應用的進(jìn)程正在加速。將光學(xué)測試由封裝級，更將深入至晶圓級半導體進(jìn)程，是確保效能與良率的重要步驟。

思達科技所開(kāi)發(fā)的世界領(lǐng)先的商用自動(dòng)測試系統Sagittarius-SPT，其先進(jìn)儀器控制與為光學(xué)產(chǎn)業(yè)開(kāi)發(fā)的測試方法，適用于此新產(chǎn)業(yè)。晶圓級測試的一項測試關(guān)鍵層面，是快速可重復性的光耦合，包括探針卡位置優(yōu)化，以及偏振校準。

圖解: Sagittarius-SPT自動(dòng)順序測試采用具有PIN結構的矽線(xiàn)波導的可變光衰減器(VOA)

Sagittarius-SPT帶來(lái)幾項突破，包括在晶圓切割前，提供測試晶圓與元件的自動(dòng)測試平臺；具有傳統DC與射頻電子的晶圓探測功能，集成至光學(xué)測試范圍等。思達已為光通訊元件分析儀(LCA)、光開(kāi)關(guān)、可調鐳射光源、光功率計等提供多種儀器驅動(dòng)器，可以對可變光衰減器、光學(xué)調變器，與鐳射光電二極管等等進(jìn)行測試。

矽光子元件的自動(dòng)化特性測試，使具有單個(gè)或多個(gè)輸入、加上單個(gè)或多個(gè)輸出的不同類(lèi)型元件能夠以納米級精度自動(dòng)對準。為了加速晶圓級測試的進(jìn)程，思達開(kāi)發(fā)了先進(jìn)的自動(dòng)化光纖校準系統和高級探針臺，在矽光子元件測試時(shí)，使用先進(jìn)校準技術(shù)，無(wú)須人工互動(dòng)，即可按順序方式移至下一個(gè)元件。

Sagittarius-SPT進(jìn)一步使不同類(lèi)型的矽光子元件，能以不同的方式測試光電直流，與動(dòng)態(tài)高頻性能。包含運用于自動(dòng)晶圓裝載與卸載的設備前端模組(EFEM)，使得Sagittarius-SPT成為應用于矽光子元件和集成電路的領(lǐng)先業(yè)界的量產(chǎn)制造測試系統，以最低的測試成本，為客戶(hù)生產(chǎn)矽光子元件。思達科技今后也將為不同客戶(hù)提供Sagittarius-SPT自動(dòng)矽光子測試系統解決方案。

關(guān)于思達科技

思達科技（STAr Technologies）成立于2000年，專(zhuān)精于先進(jìn)整合測試系統與高效能探針卡。所開(kāi)發(fā)的整合測試系統已在全球安裝超過(guò)一千套，其應用范圍廣泛，如SPICE建模、DC-RF元件特性、可靠度品質(zhì)驗證與矽光子測試等等。思達科技總部位于臺灣新竹市，在美國、日本、韓國、新加坡、中國與印度設有分公司。請查詢(xún)網(wǎng)站www.STAr-Quest.com。