關(guān)鍵字:PXIe 射頻芯片組測試
功能強大的碼型環(huán)化技術(shù)使工程師能夠針對單站點(diǎn)或多達 4 個(gè)獨立的多站點(diǎn)動(dòng)態(tài)地創(chuàng )建碼型,利用高電壓通道和開(kāi)漏引腳同時(shí)實(shí)施器件測試。工程師因此可節省寶貴的設計驗證和生產(chǎn)測試時(shí)間。
是德科技軟件和模塊化解決方案事業(yè)部市場(chǎng)經(jīng)理 Mario Narduzzi 表示:“我們一直積極幫助測試工程師加速設計驗證和提升生產(chǎn)測試吞吐量,經(jīng)過(guò)不懈努力,我們最終在業(yè)界率先推出了高速、靈活且具有同步多站點(diǎn)功能的PXIe高速數字激勵/響應模塊。”
Keysight M9195A PXIe 數字激勵/響應模塊提供:
串行和并行數字器件接口仿真
精確的矢量時(shí)間控制,強大的波形表功能和高達 250 ns 激勵/響應時(shí)延補償設置以及 25 ps 可編程分辨率。
業(yè)界領(lǐng)先的每比特1 ns邊沿分辨率能力,使工程師能夠更精確地驗證器件設計
通過(guò)軟件前面板啟動(dòng)數字儀器控制和碼型生成/編輯
全功能驅動(dòng)程序和 IEEE-1450 STIL 編程標準或 Open XML(Excel)
提供可以加速波形碼型生成的測試開(kāi)發(fā)軟件
碼型導入功能,可以導入自動(dòng)測試應用軟件創(chuàng )建的碼型